PH132-PCC10A加热板

    实际关乎一种mocvd反应腔用加热板。背景技术：半导体芯片在发育时，对温场的均匀性要求较高，因此一种加热均匀且使用寿命较久的加热板对半导体芯片的制作具有至关关键的效用。通过检索，在**称谓：一种用以mocvd装置的钨涂层加热片及其制备方式（cnb）中公开了一种加热片，但是这种加热片由于中心为镂空构造并不适合半导体领域的芯片发育采用。在目前，芯片生长中用到到的加热板的构造如附图1所示，中间是形状为ω的热弧板1，在热弧板1的两侧分别连通两组拱形热片2，两组半圆形热片2是直线对称的，在半圆形热片2的自由端是分别接着电源的左电极和右电极。将这种传统的加热片放在陶瓷上通电后给上方的芯片提供平稳的热源。这种平板型加热板是一种电阻式加热方法，通过热辐射的方法，给上方的生长芯片的载体（石墨盘）加热，提供芯片生长所需的热能和温场。由于加热板的空隙22部分对应上方的载盘位置的是从未直接热辐射加热的，石墨盘此部分的受热能量是靠其他部分的热传导。另外，石墨盘是通过高速转动的（1000rpm）实现载体（石墨盘）的表面温场的均匀性（±℃）。传统的对称式构造加热片中，加热板的空隙22部分是分布在同一个同心圆圆弧上。传统加热板留置区分配不合理引致加热不平衡，也易于引致局部变形等疑问。PH132-PCC10A加热板

    当***分区和第二分区之间的温度值差值超过℃时，控制模块降低温度较高的分区的功率继电器的输出功率，或者控制模块提高温度降低的分区的功率继电器的输出功率。本领域普通技术人员可根据实际需求设置该阶段的精度值。通过对热盘进行分区化的温度管理，使得各个分区之间的温度差一直处在合理范围内，进而可以提高升温速率，不用担心热盘温度不均匀而损坏晶圆，**终达到了缩短晶圆加工时间，提高产量的目的。实施例3：本实施与实施例1的不同点是晶圆加热处于冷却降温阶段，在该阶段控制模块的精度值设置为℃，当***分区和第二分区之间的温度值差值超过℃时，控制模块降低温度较高的分区的功率继电器的输出功率，或者控制模块提高温度降低的分区的功率继电器的输出功率。本领域普通技术人员可根据实际需求设置该阶段的精度值。以上实施方式*用于说明本发明，而并非对本发明的限制，有关技术领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围的情况下，还可以做出各种变化和变型，因此所有等同的技术方案也属于本发明的范畴，本发明的**保护范围应由权利要求限定。PA6025-PCC200V加热板说明书本实用新型涉及等离子体cvd晶圆加热器的领域。

    使得同心圆圆弧上的位置温场分布较差。但是传统构造的加热片在采用时候会存在很多疑问：1．中间ω形状的热弧板1在持续加热工作后会有变形，这种变形又会更进一步引致加热片的总体变形，这种总体变形又会让两组加热片之间彼此相近（易于放电打火甚至短路）或上翘，这种远离或相近也会导致左电极3和右电极4，如附图2中相片的黑色箭头指示位置处。2．为了确保加热安定，其加热片的构造相同，这使得直线对称构造的加热片，其左电极3和右电极4在同一侧，会存在短路隐患，更是是总体变形后还会存在挤碎底部陶瓷的高风险。3．为了防范每组加热片之间短路，在每个包抄的加热片之间都会留有空隙22，而传统两组加热片之间存在的空隙22（主要在直线对称轴附近）空间分布不合理，迂回拐点相对处较近，其他地方较宽，会导致提供给芯片发育的热源不安定；同时，这种间隔较大，由于存在较大的温差，故此也致使拱形热片2的迂回拐点特别容易发生变形，附图3中的相片所示；相反，如果在直线对称轴附近留有的空隙较小，又会因为疑问1的缘故特别易于引致短路。目前的解决办法是：对传统加热片频繁的检查，做到早发现，早更换。但是这会增加加热片的使用成本。

    是在晶圆的正面贴一层膜保护已经制作好的集成电路，然后通过研磨机来进行减薄。晶圆背面研磨减薄后，表面会形成一层损伤层，且翘曲度高，容易破片。为了解决这些问题，需要对晶圆背面进行湿法硅腐蚀，去除损伤层，释放晶圆应力，减小翘曲度及使表面粗糙化。使用槽式的湿法机台腐蚀时，晶圆正面及背面均与腐蚀液接触，正面贴的膜必须耐腐蚀，从而保护正面的集成电路。使用单片作业的湿法机台，晶圆的正面通常已被机台保护起来，不会与腐蚀液或者腐蚀性的气体有接触，可以撕膜后再进行腐蚀[3]。晶圆除氮化硅此处用干法氧化法将氮化硅去除晶圆离子注入离子布植将硼离子(B+3)透过SiO2膜注入衬底，形成P型阱离子注入法是利用电场加速杂质离子，将其注入硅衬底中的方法。离子注入法的特点是可以精密地控制扩散法难以得到的低浓度杂质分布。MOS电路制造中，器件隔离工序中防止寄生沟道用的沟道截断，调整阀值电压用的沟道掺杂，CMOS的阱形成及源漏区的形成，要采用离子注入法来掺杂。离子注入法通常是将欲掺入半导体中的杂质在离子源中离子化，然后将通过质量分析磁极后选定了离子进行加速，注入基片中。退火处理去除光刻胶放高温炉中进行退火处理以消除晶圆中晶格缺陷和内应力。当物件温度距目标温度80120°C时，改为动态功率加热。

    以恢复晶格的完整性。使植入的掺杂原子扩散到替代位置，产生电特性。去除氮化硅层用热磷酸去除氮化硅层，掺杂磷(P+5)离子，形成N型阱，并使原先的SiO2膜厚度增加，达到阻止下一步中n型杂质注入P型阱中。去除SIO2层退火处理，然后用HF去除SiO2层。干法氧化法干法氧化法生成一层SiO2层，然后LPCVD沉积一层氮化硅。此时P阱的表面因SiO2层的生长与刻蚀已低于N阱的表面水平面。这里的SiO2层和氮化硅的作用与前面一样。接下来的步骤是为了隔离区和栅极与晶面之间的隔离层。光刻技术和离子刻蚀技术利用光刻技术和离子刻蚀技术，保留下栅隔离层上面的氮化硅层。湿法氧化生长未有氮化硅保护的SiO2层，形成PN之间的隔离区。生成SIO2薄膜热磷酸去除氮化硅，然后用HF溶液去除栅隔离层位置的SiO2，并重新生成品质更好的SiO2薄膜,作为栅极氧化层。氧化LPCVD沉积多晶硅层，然后涂敷光阻进行光刻，以及等离子蚀刻技术，栅极结构，并氧化生成SiO2保护层。形成源漏极表面涂敷光阻，去除P阱区的光阻，注入砷(As)离子，形成NMOS的源漏极。用同样的方法，在N阱区，注入B离子形成PMOS的源漏极。沉积利用PECVD沉积一层无掺杂氧化层，保护元件，并进行退火处理。电热恒温加热板由箱壳、微晶玻璃加热面、陶瓷纤维加热盘及高温镍镉炉丝，控制盒构成。MSA FACTORYPA3025-WP-PCC20A加热板国内总代理

薄膜的沉积方法根据其用途的不同而不同，厚度通常小于1um。PH132-PCC10A加热板

    MR)等在高温中气相化学反应(热分解，氢还原、氧化、替换反应等)在基板上形成氮化物、氧化物、碳化物、硅化物、硼化物、高熔点金属、金属、半导体等薄膜方法。因只在高温下反应故用途被限制，但由于其可用领域中，则可得致密高纯度物质膜，且附着强度很强，若用心控制，则可得安定薄膜即可轻易制得触须(短纤维)等，故其应用范围极广。热CVD法也可分成常压和低压。低压CVD适用于同时进行多片基片的处理，压力一般控制在。作为栅电极的多晶硅通常利用HCVD法将SiH4或Si2H。气体热分解（约650oC）淀积而成。采用选择氧化进行器件隔离时所使用的氮化硅薄膜也是用低压CVD法，利用氨和SiH4或Si2H6反应面生成的，作为层间绝缘的SiO2薄膜是用SiH4和O2在400--4500oC的温度下形成SiH4+O2-SiO2+2H2或是用Si(OC2H5)4(TEOS:tetraethoxysilanc)和O2在750oC左右的高温下反应生成的，后者即采用TEOS形成的SiO2膜具有台阶侧面部被覆性能好的优点。前者，在淀积的同时导入PH3气体，就形成磷硅玻璃（PSG：phosphorsilicateglass）再导入B2H6气体就形成BPSG(borro?phosphorsilicateglass)膜。这两种薄膜材料，高温下的流动性好，***用来作为表面平坦性好的层间绝缘膜。PH132-PCC10A加热板

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